X
X-CTR - X-Ray Crystal Truncation Rod Scattering
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XAES - X-Ray Induced Auger Electron Spectroscopy
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XDS - X-Ray Diffuse Scattering
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XPEEM - X-Ray Photoelectron Emission Microscopy
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XPS - X-Ray Photoelectron Spectroscopy
Bei der XPS wird eine Probe mit Röntgenlicht bestrahlt, wobei Elektronen aus inneren Schalen herausgelöst werden Die kinetische Energie der Elektronen wird bestimmt, und so die für ein Material charakteristische Austrittsarbeit bestimmt (auch ESCA, UPS (UV-PS) ARPES).
XR - X-Ray Reflectivity
XRD - X-Ray Diffraction
Röntgenstrahlen haben Wellenlängen von der gleichen Größenordnung wie die Abstände von Atomen, Ionen oder Molekülen in einem Kristall. Für solche Strahlen wirkt ein kristallines Material deswegen wie ein optisches Gitter für Licht; auf einen Kristall einfallende Röntgenstrahlen werden von diesem unter ganz bestimmten Winkeln gebeugt. Die Beugungswinkel hängen von der Wellenlänge der Strahlung, der Zusammensetzung sowie der Orientierung des Kristalls ab. Da Röntgenstrahlen hauptsächlich mit den Elektronen des Kristalls wechselwirken, entsteht durch die Röntgenbeugung ein Bild der Elektronedichte im Kristall.
XRF - X-Ray Fluorescence Spectroscopy
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XRF - X-Ray Fluorescence Analysis
Bei der XRF wird eine Probe der Röntgenstrahlung ausgesetzt. Die Röntgenstrahlen regen Elektronen auf inneren Schalen der Probenatome so stark an, dass diese das Atom verlassen können. Elektronen von äußeren Schalen nehmen den Platz der emittierten Elektronen ein, und geben dabei Strahlung ab, bei der es sich ebenfalls um Röntgenstrahlung handelt. Menge und Energie der Strahlung wird gemessen.
XRM - X-Ray Microscopy
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